光學形貌儀進行表面粗糙度和表面形貌測量時，比探針式輪廓儀有G低的成本，但同樣使用了當今較高分辨率光學輪廓儀采用的白光干涉（WSI）及相移干涉（PSI）測量技術(shù)，垂直分辨率可達次納米級。光學形貌儀的直觀軟件包括表面粗糙度，形狀和臺階高度的測量，在數(shù)秒內(nèi)，您可以獲得平面和曲面表面形貌測量所有常見的粗糙度參數(shù)。也可以選擇拼接功能軟件來組合多個影像以提供大面積的測量。

產(chǎn)品應(yīng)用：

MEMS、半導體材料、太陽能電池、生物材料，光學元件、陶瓷和材料的研發(fā)。

產(chǎn)品特性：

1、采用白光共J焦色差技術(shù)，可獲得納米級的分辨率；

2、測量具有非破壞性，測量速度快，準確度高；

3、測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料；

4、尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面；

5、不受樣品反射率的影響；

6、不受環(huán)境光的影響；

7、測量簡單，樣品無需特殊處理。

更多產(chǎn)品信息來源：http://www.dymek.com.cn/Products-35221367.html

https://www.chem17.com/st110205/product_35221367.html