概述

XIK-SPA射頻導納物位控制器是用于檢測料倉、料槽或其它容器中帶粘附性的液體、固體顆粒、粉塵、其它混合漿料等料位的位式控制儀表。亦可用于兩種不同液體之間界面測量，如油水界面測量。

XIK-SPA射頻導納物位控制器具有校準簡單快捷、產品性能穩定、各種型號通用性強、安裝方便、外形美觀等優點。可廣泛用于石油、化工、冶金、電力、醫藥、食品、造紙、建材等工業領域。且控制器可與 PLC 可編程控制器或 DCS 集散控制系統配套使用，實現工藝流程的自動檢測和自動控制。

工作原理

1.XIK-SPA 射頻導納物位控制器是利用高頻技術，由電子線路產生一個小功率射頻信號于探頭上，探頭作為敏感元件，將來自物位介電常數引起的信號變化反饋給電子線路；由于這些變化包括電容量和電導量的變化，因而電子線路中處理的是電抗（容抗和阻抗的綜合變化的信號）信號。

2.電抗的變化又引起了極棒上高頻信號的相位發生變化。因此極棒上的高頻信號與電子線路中的基準信號的相位差也隨之發生變化，該變化經處理后，驅動輸出電路發出報警信號，從而達到檢測料倉有無物料。

3.XIK-SPA 射頻導納物位控制器采用三端 Cote–Shield 技術，排除探測極棒上粘附物料對控制作用的影響。電子線路中產生的高頻信號，一路直接送往探測極棒上，另一路經過一個RF電壓跟隨器送往防粘附保護套上。其大小相位都是與加在探測極棒上的信號相同。當有物料粘附在探頭上時，由于保護套與倉壁之間構成一個電容，所以加在保護套上的高頻信號就會使該電容趨向飽和，以致探頭上的高頻信號就無法通過粘附層流入容器壁，當容器內大量物料接觸探頭時，探頭上的電流繞過飽和區流向容器壁，從而產生有物料存在的信號。

主要技術參數

工作電源：24VDC；220VAC

相對濕度：≤85%

輸出信號：兩組常開、常閉觸點

觸點容量：AC220V，5A; DC24V，3A

環境溫度范圍：-40℃～+60℃

介質溫度：-180℃～+500℃

延遲時間：0.2S（0.2～30S 可調）

防護等級：IP65

探頭材質：316 不銹鋼、四氟乙烯、高溫塑料、陶瓷

防爆等級：ExdIIBT4

連接方式：3/4″NPT 螺紋；3/4″管螺紋；法蘭（可選）；1–1/ 2″管螺紋

安裝方式：頂裝、側裝